紫外正性光刻胶
紫外正性光刻胶
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紫外正性光刻胶
正性光刻是将掩膜版上的图形转移到衬底上,被紫外光曝光后的区域经历了一种化学反应,在显影液中软化并可溶解在显影液中。曝光的正性光刻胶区域将在显影液中除去,而不透明的掩膜版下的没有被曝光的光刻胶仍留在硅片上,由于形成的光刻胶上的图形与投影掩膜版上的相同,所以这种光刻胶就叫做正性光刻胶。保留下来的光刻胶在曝光前已被硬化并将留在硅片表面,作为后步工艺比如刻蚀的保护层,在接下来的工艺结束后光刻胶将被除去。
新越半导体可提供多种规格型号的紫外正性光刻胶,具体型号请咨询客服。
类型 型号 厚度/um 分辨率/um 作用光谱 工艺应用
正性光刻胶 S1800系列 0.5-3.5 0.5 g-line,broad line 最常用的紫外薄胶;稳定性好
SPR955系列 0.5-5 0.35 i-line 高分辨率正胶;应用广泛
SPR220系列 1-20 1 i-line 适用于深硅刻蚀工艺和湿法腐蚀工艺
4000系列 3-50 1 i-,h-,g-line 适用于电镀、离子注入、MEMS等工艺
1500系列 0.5-5 0.5 i-,h-,g-line 适用于分辨率低于1um的常用工艺
6100系列 1-6 0.5 i-,g-line 适用于湿法、干法刻蚀工艺
以上厚度均为单次涂覆厚度;分辨率一般为极限分辨率。
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